产品介绍
阻抗分析仪 IM3570
1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
测量|Z|、L、C、R 测量频率4Hz~5MHz 测量时间：0.5ms 同时进行扫频测量和LCR测量
· 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
· LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
· 基本精度±0.08%的高精度测量
· 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
· 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
· 可以用于无线充电评价系统TS2400
· 搭配4ch扫描模块机架，更能实现2MHz阻抗的4ch测量
常规产品
产品分类：
电子制造服务
应用领域：
工业电子
通信系统
消费电子
电脑和周边设备
新能源
汽车
工程机械
展商信息
我们的展位号
E5
.
5111
5111
请仔细阅读
免责声明
