UV Reticle缺陷检测设备 CFY401 | 慕尼黑上海电子生产设备展 productronica Shanghai UV Reticle缺陷检测设备 CFY401,UV Reticle Defect Detection Equipment CFY401,测试测量和质量保证,慕尼黑上海电子生产设备展 productronica Shanghai CFY401 是应用在 MaskShop 生产过程检和出货检的UV Reticle检测设备,诚锋的光罩检测技术可帮助光罩制造商识别光罩particle缺陷和图形缺陷。CFY401 支持多种检测模式,支持SMIF自动上下料和高速运动载台,既可以满足检测稳定性和产能需求,也可以满足超高洁净度要求,从而帮助客户提升良率。 Particle检测:贴膜前,最高分辨率可做到0.13um 图形检测:最高分辨率可做到0.13um

产品介绍

UV Reticle缺陷检测设备 CFY401
CFY401 是应用在 MaskShop 生产过程检和出货检的UV Reticle检测设备,诚锋的光罩检测技术可帮助光罩制造商识别光罩particle缺陷和图形缺陷。CFY401 支持多种检测模式,支持SMIF自动上下料和高速运动载台,既可以满足检测稳定性和产能需求,也可以满足超高洁净度要求,从而帮助客户提升良率。 Particle检测:贴膜前,最高分辨率可做到0.13um 图形检测:最高分辨率可做到0.13um
常规产品
产品分类:
测试测量和质量保证
应用领域:
工业电子

展商信息

我们的展位号
E5 .
5750
请仔细阅读 免责声明
加入我们的社交媒体