功率半导体器件动态可靠性测试系统 STEINMETZ DHTGB/DHTRB | 慕尼黑上海电子生产设备展 productronica China

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产品介绍

功率半导体器件动态可靠性测试系统 STEINMETZ DHTGB/DHTRB

1、高性能指标，参数范围灵活可调：高dV/dt，宽频率范围任意可调，占空比任意可调 2、高安全性 & 高可靠性：保护功能全，任意器件出现损害不影响其他DUT，互不干扰。热源隔离，降低部件老化风险 3、更全的范围：兼容动态、静态测试；电加热版支持完全独立实验区；不同条件和不同器件实验同时进行 4、满足车规级测试需求：符合AQG324测试标准支持混用：单管器件、半桥模块、全桥模块兼容上电自测、保护功能、故障隔离软件控制：每个工作区可独立控制；单个负载柜每层可独立设置应力参数