功率半导体器件动态可靠性测试系统 STEINMETZ DH3TRB | 慕尼黑上海电子生产设备展 productronica China

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产品介绍

功率半导体器件动态可靠性测试系统 STEINMETZ DH3TRB

1、高性能指标，参数范围灵活可调：高dV/dt，宽频率范围任意可调，占空比任意可调 2、高安全性 & 高可靠性：保护功能全，任意器件出现损害不影响其他DUT，互不干扰。热源隔离，降低部件老化风险 3、更全的范围：兼容动态、静态测试；电加热版支持完全独立实验区；不同条件和不同器件实验同时进行 4、满足车规级测试需求：符合AQG324测试标准软件：可操作最小单元为一个载板，除温度外，每个载板可单独设置工序独立运行，可对每个载板独立控制安全保护：带电及高温运行条件下，开箱设备会触发报警，同时上位机会关闭供电电源，防止人员触电和高温烫伤；故障隔离：任何被测器件出现故障，不影响其他器件工作