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产品介绍

玻璃晶圆缺陷检查装置
Glass Wafer的出货检查、过程评价 可同时检查表面,背面和内部的缺陷 用微分干涉显微镜判断、分析表面和背面的缺陷 检查对象:12inch Glass Wafer 检查项目:表面和背面的颗粒、内部缺陷
2026新品
产品分类:
系统级封装
应用领域:

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我们的展位号
E4 .
4590
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