双面飞拍涂覆 AOI | 慕尼黑上海电子生产设备展 productronica China

双面飞拍涂覆 AOI | 慕尼黑上海电子生产设备展 productronica China 双面飞拍涂覆 AOI,Dual-Sided On-the-Fly Imaging Coating AOI,点胶涂覆,慕尼黑上海电子生产设备展 productronica China SAM大模型AI算法：采用SAM大模型进行涂覆区域提取，生成涂覆检测的区域。零缺陷样本识别：产品换型，缺陷样本太少甚至没有的情况下，采用EffectAD异常检测算法，进行缺陷检测。高精度缺陷识别：缺陷样本每种达到20个样本的条件下，通过样本扩充算法进行5倍样本扩充，采用ACC-Unet进行图像的缺陷区域提取. 膜厚测量：基于光谱共焦原理的膜厚测量方法，使用白光点光源发出宽谱光束，经透镜组色散后形成不同波长对应不同聚焦位置的轴向色差。当光线照射至薄膜表面时，只有满足共焦条件的特定波长被反射并穿过小孔，由光谱仪分析其波长，即可精确换算出对应的膜层厚度或表面高度。检测流程：光源打开白光，获取条码或二维码，进行MES系统数据交互；然后光源切换UV光，采集涂覆图像。

产品介绍

双面飞拍涂覆 AOI

SAM大模型AI算法：采用SAM大模型进行涂覆区域提取，生成涂覆检测的区域。零缺陷样本识别：产品换型，缺陷样本太少甚至没有的情况下，采用EffectAD异常检测算法，进行缺陷检测。高精度缺陷识别：缺陷样本每种达到20个样本的条件下，通过样本扩充算法进行5倍样本扩充，采用ACC-Unet进行图像的缺陷区域提取. 膜厚测量：基于光谱共焦原理的膜厚测量方法，使用白光点光源发出宽谱光束，经透镜组色散后形成不同波长对应不同聚焦位置的轴向色差。当光线照射至薄膜表面时，只有满足共焦条件的特定波长被反射并穿过小孔，由光谱仪分析其波长，即可精确换算出对应的膜层厚度或表面高度。检测流程：光源打开白光，获取条码或二维码，进行MES系统数据交互；然后光源切换UV光，采集涂覆图像。